仪器和设备
仪器简介
X射线荧光光谱仪（XRF）是测量和分析样品中产生的特征X射线荧光以获取有关物质成分的定性和定量信息的仪器。
仪器信息
制造商：德国布鲁克型号：S8 Tiger
主要技术参数
<4> 4 kW超尖陶瓷功率射线管，最大励磁电流170mA，最大励磁电压60kV；光谱晶体：LiF（200)，PET，XS-55），Ge晶体，XS-C晶体，XS -N晶体；分析范围12C-92U。
功能使用
压粉样品的成分分析
仪器简介
透射电子显微镜（TEM）可以将加速且集中的电子束投射到非常薄的样品上。电子与样品中的原子碰撞以改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度和厚度有关，因此可以形成不同亮度的图像。
仪器信息
制造商：JEOL型号：JEM-2000EX
主要技术参数
加速电压：80〜200 kV，放大倍率：1K〜32K
点分辨率：1.0 nm线分辨率：0.5 nm
主要功能和应用
它主要适用于各种固体材料的形态，结构和粒度分析，例如金属材料，金属基复合材料和陶瓷材料。
制造商：日本Rigaku Rigaku
型号：Ultima-IV
主要技术参数
高压：最大60 kV
电流：最大80 mA2θ
范围：0.4°〜160°
测试精度：0.001°/步
主要功能和应用
它用于在材料，聚合物，催化剂等研究领域对物质的特定结构进行定性和定量分析。
仪器简介
利用材料的红外吸收特性，通过测量材料的振动和旋转吸收光谱，可以实现对被测物的结构鉴定和定性定量分析。
仪器信息
制造商：美国热电集团Nicolet
型号：Avatar370
技术参数
波数范围：4000-400cm-1，分辨率：0.1cm-1；信噪比：> 20000：1
仪器的适用范围
有机分析，聚合物研究，环境分析，生物医学，配合物和金属有机化合物的红外分析。
仪器简介
AutoChem是使用动态技术的全自动高精度温度编程和化学吸附分析仪，能够进行全自动脉冲化学吸附和温度编程还原（TPR），温度编程解吸（TPD），温度编程氧化（TPO）以及程序升温反应（TPRx）和BET表面积评估。
仪器规格和功能
支持专用接口，可以连接质谱仪，气相，红外等设备；
检测器：使用热导检测器和镀金热线来延长使用寿命；
具有12个气体接口，包括4种载气自动测量设备，4种制备气和4种脉冲气;
内置软件可以实现与质谱仪的控制和信号同步；
化学吸附气体：典型的氢气，氧气，一氧化碳自动测量设备，二氧化硫，氨气等。
测试应用范围
脉冲化学吸附，催化剂预处理，等温反应，BET比表面积，可同时用作微型反应器。用于催化剂表征，例如金属分散体，活性金属表面积，酸中心数和强度分布等。
仪器简介
美国Mike TriStar3020系列是一款全自动三工位比表面积和孔隙率分析仪，可提高质量控制分析的检测速度，并提供高精度，高分辨率和数据处理功能，以满足大多数用户的需求研究与开发。
仪器规格和功能
同时独立地分析三个样品，可用于微孔分析；
标配专用的饱和压力端口，并提供各种杜瓦瓶和样品管；
它可以升级到高真空系统，以测试低比表面积和微孔；
可以使用任何气体，并且死体积测试不需要氦气；
测试应用范围
根据气体吸附（通常为氮气）的原理，可以进行等温吸附和解吸分析，以确定比表面积，微孔体积和孔面积，中孔体积和面积以及总孔体积。适用于各种材料的研究和产品测试，包括测量沸石，碳材料，分子筛，二氧化硅，氧化铝，粘土，有机金属化合物骨架结构等。
仪器简介
迈克公司的ASAP2020吸附仪器使用静态体积技术获得高质量数据，可用于分析研发和质量控制中材料的比表面积，孔隙率和吸附数据。考虑到实验室对样品测试的需求不断增长，可以升级标准模型以进行全面的表面分析。
仪器规格和功能
装有液氮液位保持装置---液氮等温钳；
除气系统和分析系统两套真空系统相互独立，避免了一个真空系统带来的污染问题，为完成微孔分析提供了保证；
72小时无人值守，连续分析无上限，确保微孔分析的完整性；
六个物理吸附空气入口，在分析不同气体时无需更改气体路径。
测试应用范围
适用于各种材料的研究和产品测试，包括测量各种材料，例如沸石，碳材料，分子筛，二氧化硅，氧化铝，土壤，粘土和有机金属化合物骨架结构。
规格和型号
德国耐驰STA449F5
仪器功能
整个系统采用垂直结构，样品在顶部，天平在底部。
（a）加载样本很简单； （b）用户可以根据需要轻松更换传感器； （c）逸出气流的方向与天然气的方向相同，并且所有逸出的物质被吹扫气体完全从天平上带走。传感器不会污染传感器； （d）只有少量吹扫气体才能将逸出的物质带入红外仪器，这适合于随后对其他组合用途的分析。
使用表面DSC量热技术，这是唯一一种可以同时真正测量TG和DSC信号的同步热分析仪器，具有很高的DSC量热精度。
炉体采用真空密封设计，真空度可达10-2 mbar，可确保测试气氛的纯净。
使用德国赛多利斯天平，称量范围宽：35g，灵敏度高：0.1μg
测试应用范围
适用于各种材料的研究和产品测试，包括测量各种材料，例如沸石，碳材料，分子筛，二氧化硅，氧化铝，土壤，粘土和有机金属化合物骨架结构。
