HDDL 电缆故障测试仪 (闪测仪) 脉冲高压闪光测试方法说明
3、冲击高压闪光试验方法（Impact flash method）
3.1 Flash方法的基本原理
闪络法适用于测试高阻漏电故障，其他类型的高低阻故障也可用闪络法测试。测试方法是通过球隙对电缆施加脉冲电压，使故障击穿并放电，并产生反射电压（或电流）。仪器记录这一瞬间状态的过程，并通过波形分析确定故障点的位置。它是测量高阻和闪络故障的主要方法。同样的采样方式又分为电压采样和电流采样。当然，细分也可以分为低端电压采样、电感和电阻采样、起始端和结束端采样。由于低端电流采样连接简单，
3.2 电流采样闪光方式
闪烁法的操作方法如下：开机（上电复位）→复位（主菜单）→键1（工作选择菜单）→键3（闪烁1）。根据作业选择的提示菜单，闪烁分为：Flash 1和Flash两种方式，Flash 1为正脉冲触发方式（如电流采样），Flash 2为负脉冲触发方式（如电压采样）。根据推荐选择当前采样方式，所以按3进入脉冲闪光1工作模式。
进入flash后，按照屏幕上的接线图连接接线和采样器闪测仪，如图13所示。
图13 闪-闪法电流采样接线图
图 13 示意性说明：T1.3kVA/0.22kV 稳压器
T2.3kVA/50kV交直流高压变压器
D、高压整流硅堆，大于150kV/0.2A
C、高压脉冲电容器，容量1～8μF，耐压大于10kV
五、电压表
B、电流采样盒（配套附件）
J. 高压球间隙（可选配件）
除电流采样器B外，以上设备均为外接设备，可
使用图13所示的分体式高压测试设备，或集成高压电源（注意测试前高压放大器必须连接高压地线）。
根据接线图完成连接后，按“Speed”键选择传输速度或重新输入速度值。将增益调节旋钮旋至1/3左右，然后按下“采样”键，仪器进入等待采样状态。
调整球间隙和“增益”旋钮后，再通电对故障电缆进行升压。当电压上升到一定值时，故障点发生闪络放电，仪器记录波形，可根据波形大小重新调整输入幅值，重复采样，闪络测试波形如图14所示：
波形特征分析如下：一个小的正脉冲是球隙被破坏，故障点没有放电时电容器向电缆放电的电流脉冲（输入幅度小或仪器灵敏度低），第二大正脉冲脉冲为故障点穿后形成的短路电流脉冲，其次是放电电流脉冲形成的第一、第二等多重反射电流脉冲，并且幅度由于衰减而逐渐减小。由于故障特性的差异以及电容器电压和引线电感的存在，在反射正脉冲的前沿会出现负冲击。在计算故障距离时闪测仪，起点为正放电脉冲的前沿，终点为二次反射正脉冲之前的负脉冲前沿。（发射脉冲为正脉冲，反射脉冲也是正脉冲但前沿有负后坐力。由于故障性质等原因，负后坐力大小不同，但它远小于正脉冲的幅度）
设置光标时，起点光标选择在正脉冲上升沿与基线的交点处，结束光标选择在负反冲下降沿与基线的交点处。如果没有负脉冲，将结束光标设置在反射脉冲的上升沿与基线的交点处，故障显示距离将增加10%左右。固定点时，应压缩粗测距离以确定参考点的位置。
