HDDL电缆故障测试仪（闪测仪）脉冲高压闪光测试方法（impact flash method）
冲击高压闪光试验法（impact flash method）
3.1 Flash方法的基本原理
闪络法适用于测试高阻漏电故障，其他类型的高低阻故障也可用闪络法测试。测试方法是通过球隙对电缆施加脉冲电压，使故障点通过并放电，并产生反射电压（或电流）。仪器记录这一瞬间状态的过程，并通过波形分析确定故障点的位置。它是测量高阻和闪络故障的主要方法。同样的采样方式也分为电压采样和电流采样。当然细分也可以分为高端和低端电压采样、电感和电阻采样、起止采样。因为低端电流采样连接简单，
3.2 电流采样闪光方式
闪烁法的操作方法如下：开机（上电复位）→复位（主菜单）→键1（工作选择菜单）→键3（闪烁1）。根据作业选择提示菜单，闪烁分为：Flash 1和Flash 2两种方式，Flash 1为正脉冲触发方式（如电流采样），Flash 2为负脉冲触发方式（如高端电压采样）。根据推荐选择当前采样方式，所以按3进入flash 1工作模式。
进入flash后，按照屏幕上的接线图连接接线和采样器，如图13所示。
图13：flash-flash法电流采样接线图
图 13 示意性说明：T1.3kVA/0.22kV 稳压器
T2.3kVA/50kV交直流高压变压器
D、高压整流硅堆，大于150kV/0.2A
C、高压脉冲电容器，容量1～8μF，耐压大于10kV
五、电压表
B、电流采样盒（配套附件）
J. 高压球间隙（可选配件）
除电流采样器B外，以上设备均为外接设备，可
使用图13所示的分体式高压测试设备，或一体式高压电源（注意测试前必须将高压放电棒连接到高压地线）。
根据接线图完成连接后，按“Speed”键选择传输速度或重新输入速度值。将增益调节旋钮旋至1/3左右，然后按下“采样”键闪测仪，仪器进入等待采样状态。
调整球间隙和“增益”旋钮后，再通电对故障电缆进行升压。当电压上升到一定值时，故障点发生闪络放电，仪器记录波形，可根据波形大小重新调整输入幅值，重复采样闪测仪，闪络测试波形如图14所示：
波形特征分析如下： 第一个小正脉冲为球隙断路且故障点未放电时电容器放电至电缆的电流脉冲（输入幅值为小或仪器灵敏度低）一个大的正脉冲是故障被击穿后形成的短路电流脉冲，其次是由放电电流脉冲形成的第一、第二等多次反射电流脉冲，由于衰减，幅度逐渐减小。由于故障特性的差异以及电容器电压和引线电感的存在，在反射正脉冲的前端会出现负冲击。在计算故障距离时，起点是第一个正放电脉冲的前沿，终点在第一个反射的正脉冲之前。负脉冲前沿。（发射脉冲为正脉冲，反射脉冲也是正脉冲但前沿有负后坐力。由于故障性质等原因，负后坐力大小不同，但它远小于正脉冲的幅度）
设置光标时，起点光标选择在正脉冲上升沿与基线的交点处，终点光标选择在负反冲下降沿与基线的交点处。如果没有负脉冲，将结束光标设置在反射脉冲的上升沿与基线的交点处，故障显示距离将增加10%左右。固定点时，应压缩粗测距离以确定参考点的位置。
3.3 高压闪络测试波形
（1）测试开始时的故障波形如图15所示。
图15 测试开始时的故障波形
（2）中段故障波形如图16所示。
图16 测试中途故障波形
（3）测试端故障波形如图17所示。
图17 测试端故障波形
3.4 闪络法测试波形的变化规律
图18是根据闪络试验方法波形绘制的变化规律图，只要
仔细检查和分析可以揭示它们的变化规律。希望用户必须掌握标准波形及其在不同区间的变化规律。
图18 闪络法测试波形变化规律图
4、高压闪络试验注意事项
高压闪络试验时，电压高达几万伏，因此必须按照高压操作规程进行操作，并应特别注意以下事项：
（1） 高压闪络测试时，高压测试设备应由专业人员操作，并连接好仪器。测试过程中，改变接线或更换电源时必须切断电源。调整球隙，并在接地前将电容器和电缆充分放电。线路搭接。
（2）测试前应先对故障电缆加压放电，确保各连接点无放电，且外加电压已引起故障点闪络放电，然后开始仪器测试.
（3）正确接地，即高压变压器（T2）高压尾，操作箱（T1）地线，电流采样器）并联电容器地线和电缆铠装（地线） 连接线旁边。所有连接点不得有火花，以确保测试成功以及设备和人员的安全。
（4）测试过程中闪测仪避免使用交流电源。
（5）高压闪络法测试后，电容器和电缆必须反复放电，才能使用低压脉冲法重新测试电缆。
