光学测量的主要仪器及应用
光学测量是光电技术与机械测量的高科技结合。借用计算机技术，可实现快速准确的测量。光学测量主要用于现代工业检测，主要是检测产品的形位公差和数值孔径的一致性。
光学测量主要用于现代工业检测自动测量设备，主要是检测产品的形位公差和数值孔径的一致性。
光学测量仪器的分类
用于光学测量的 DUT 分为三类：有源器件、无源器件和高速通信。有源器件主要包括：调制器、发射器、接收器、放大器、MUX/DEMUX、光电和光电转换器、激光源。
无源元件主要包括：滤波器、光纤、光连接器、分光器、光衰减器。高速通信主要包括：40G/100G光通信、广电通信、光纤接入、4G通信、光纤无线电等。
通用光参数测试仪器主要有：可调高功率激光源、光功率计、回波损耗测试仪、光衰减器、光开关、多波长计、光谱分析仪。
光/偏振/复合调制仪器主要包括：光波分量分析仪/光色散和损耗分析仪、偏振分析仪和控制器、光调制分析仪、任意波形发生器、光/电和电/光转换器。
误码率和波形分析仪器主要包括：串/并BER测试仪、光示波器和模块。
光学测量仪器应用
扫描波长光学测量解决方案
将一个或多个光功率计与可调谐激光源 (TLS) 结合使用可以支持光功率与波长之间关系的测量。
这种类型的测量通常用于确定被测设备的输入功率与输出功率的比率。该比值称为插入损耗，单位为 dB。当 TLS 在选定范围内调谐波长时，功率计将定期对指定数量的测量点的功率进行采样。
通过触发信号与 TLS 扫描同步，这些样本可以准确地与相应的波长相关联。使用多个功率计同时测量多端口设备（如多路复用器、功分器和波长开关）的输出。
使用 81600B、81940A 或 81980A TLS 和功率计（如 816x 系列模块或多端口 N7744A 和 N7745A）和免费的 N7700A IL 软件组成测量系统。这些“波长扫描”例程的编程过程非常简单，可以使用免费的816x即插即用驱动程序，并使用N4150A光学基础库（PFL）的测量功能进行增强。测量装置通过TLS连接81610A回波损耗模块，也可以测量光反射（回波损耗）。
这些激光源的内置波长监测功能可以确保高波长精度和重复性，尤其是在快速波长扫描过程中。这些“波长记录”数据利用测量触发信号实现与功率计同步。
如果您需要更高的绝对波长精度，您可以使用气体参考信号进行偏移校准。 PFL 支持工程师轻松完成校准操作。 InGaAs功率探测器在单模光纤波长范围（1260-1630nm）内响应度变化极小，灵敏度高，动态范围宽，是此类测量的最佳工具。
N7744A 和 N7745A 功率计特别适用于这些扫描波长测量：快速的采样率和宽信号带宽可以在高速扫描过程中获得高分辨率的测量结果，并且测量轨迹不失真。更快的数据传输速度可以大大提高吞吐量，特别适用于端口数量较多的情况。
瞬时功率测量
使用多端口光功率计进行瞬时功率测量：通过测量光功率电平变化来确定光纤切换时间，从而观察光纤移动或网络重构引起的瞬时波动，已超过大多数光功率power 仪表的设计功能。
这些传统的光功率计通常仅用于校准和测量光功率水平（恒定或与其他仪器同步）。传统仪器的典型采样率（约 10 kHz）、数据容量（约 100,000 个样本）以及到控制器的数据传输速度通常不足以支持此类与时间相关的应用。
其他方法，如快速光电转换器与示波器相结合，已在实践中得到应用，并已被一些标准采用。然而，这些方法往往以光功率校准为代价，需要额外的集成，并对示波器的带宽提出额外的要求。
现在，N7744A 4 端口和 N7745A 8 端口光功率计可以通过小型完整的可编程仪器以及控制器计算机轻松执行这些测量。
这些新型功率计能够以高达每秒数百万次的可选采样率准确记录光功率，每个端口存储多达 200 万个样本，并通过 USB 或 LAN 快速传输数据，并支持同时测量和数据传播。实现不间断的持续电力监控。新型 N7747A 和 N7748A 高灵敏度功率计可用于相同目的。不同的是，较低的带宽将采样率降低到每秒一万次，但可以提供较低的噪声，适用于弱信号测量。
通信波形测量
对于任何高速通信信号，都必须对信道和基本信号特性进行测试，以确保它们符合标准，并能与系统规划中的其他设备互通。
基于宽带采样示波器而设计的数字通信分析仪（DCA）在研发、器件验证和批量收发器生产领域久负盛名，被公认为光纤精确分析的行业标准。波形。除了基本的眼图和脉冲波形表征外，DCA 还可以执行高级抖动分析和通道阻抗表征。
光纤通道网络中使用的光收发器测试
这种类型的网络具有三种拓扑结构：点对点、仲裁环路和交换结构。使用光收发器可以优化设备之间的连接。例如，在交换拓扑中，SFP+（8 GFC和16 GFC）、XFP（10 Gb/s）和SFP（≤ 4 Gb/s）收发器用于连接交换结构和各种设备（如存储和计算设备） ) ).
用于测试光收发器的典型码型包括 PRBS 系列、JSPAT 和 K28 系列，它们位于 N4960A 32 G BER 测试仪的预加载码型库中。
对于 16 GFC 应用 (14.025 Gb/s)，N4960A 可以执行 BER 测量并为接收机测试提供压力模式发生器信号。 16 GFC设备准确表征，技术指标在严格的公差范围内。 N4960A 结合了 N4980A 多仪器 BERT 软件，还可提供抖动容限测试以实现准确表征。
主要应用领域有：
金属制品加工业、模具、塑胶、五金、齿轮、手机等行业的检测，以及产品开发、模具设计、拉手制作、原版雕刻、RP快速成型、电路测试等领域行业。此外，非接触式检测技术应用于机械制造行业，使加工产品达到设计精度和质量要求。
主要仪器有：二维、工具显微镜、光学影像测量仪、光学影像投影仪、三维、三维坐标测量机、三维激光复印机等
非接触检测技术的应用
在机械制造行业，为了使机械加工产品达到设计精度和质量要求，除了传统的物理测量和检测实施方法，高性能计算机和软件技术、光学、光学成像、声学和机械可以使用多种混合动作技术实现的逻辑测量和检测，这些复杂的测量和检测技术被称为非接触式测量和检测技术。
将这些非接触式测量测试技术应用于定制化测量测试工具和设备，在实际项目中取得了令人满意的预期效果。技术实现方法如下：
1）光电检测技术的应用
2）辐射探测技术应用
3）功率检测技术的应用
4）阻抗检测技术的应用
5）超声波检测技术的应用
6）特殊复杂传感技术的综合应用
工业测试系统设计
根据客户需求，我们可以不断为客户提供高性价比的检测系统。加快客户产品在市场上的进度，同时提高客户产品在市场上的竞争优势。包括以下设计内容：
1）数据处理：数据采集、数据分析、数据传输
2）工业组态软件设计：实时数据库、实时控制、联网、开放数据接口、广泛支持I/O设备。
3）中控系统设计
技术服务
在实际工作中，有些设备需要提高加工精度或增加其他所需的检测功能。还需要提供相应的技术服务，使其具有更高的自动化程度和自动测量检测功能。
自动控制设计
工业测试系统与工业自动控制的有机结合，从可编程控制器应用设计（PLC）、非接触式检测系统到中控系统设计，最终提高机械设备的加工和自动验证精度，实现智能控制，提高良率，缩短交货周期，降低生产成本，全面提升企业的市场竞争力。
光学测量仪-非接触式测厚仪
非接触式测厚仪是一种在线的非接触式测厚仪。非接触式测厚仪是测量仪器与被测物之间的非接触式测量自动测量设备，可以很好地保护被测物。
多用于工业生产中连续测量产品的厚度。镜片厚度检测会划伤表面怎么办？你可以试试这款全自动非接触式测厚仪！
产品介绍
全自动非接触式测厚仪是爱丁堡公司推出的一款高速、高精度、功能强大的镜片等精密零件的专业级测厚仪。适用于15mm以下产品的厚度检测，可自动检测待测样品。单个点的粗细。
产品采用先进的设计理念和硬件配置，可实现各种复杂精密零件的厚度测量。在软件中自动获取零件的厚度值，对测量值进行判断和自动分类，自动确定测量的厚度。自动判断产品是否合格，可大大提高产品检测效率。
产品原理
爱丁堡推出全自动非接触式测厚仪。它使用上下两个探头。每个探头都可以从探头测量被测面的位置，并计算出被测面与理论高度的高度差。高度差通过一定的算法计算得到待测样品的厚度值。
产品特点
自动检测待测零件的厚度，判断尺寸是否合格
待测点的数量和位置可自行定义
公称尺寸和判断精度由客户输入和选择。
无论被测零件是平面还是异形表面，都可以测量上下待测点。
符合人体工学的设计，减少操作人员的疲劳
软件界面操作简单，方便员工学习和操作
自动计算待测样品的合格率
如果您想了解该产品或有购买意向，可扫描下方二维码填写需求，销售人员会与您联系解答。
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