干货：HDDL电缆故障测试仪（闪测仪）简介脉冲高压闪络测量方法（冲击闪络方法）
HDDL电缆故障测试仪（闪测仪）简介脉冲高压闪络测量方法（Impact Flash方法）
1 Flash方法的基本原理
闪光灯方法适用于测试高电阻泄漏故障。对于其他类型的高电阻和低电阻故障，也可以使用闪存测试。测试方法是通过球形间隙在电缆上施加脉冲电压闪测仪，以使故障滴答通过并放电，并产生反射电压（或电流）。仪器记录该瞬时状态的过程，并通过波形分析确定故障点的位置。它是测量高阻和闪络故障的主要方法。相同的采样方法也分为电压采样和电流采样。当然，细分也可以分为高端和低端电压采样，电感和电阻采样以及开始和结束采样。由于低端电流采样连接简单，可靠，安全，并且波形易于识别，因此电流采样方法非常实用。
2电流采样和闪烁方法
闪烁方法的操作方法如下：开机（开机复位）→复位（主菜单）→键1（工作选择菜单）→键3（闪烁1）。根据作业提示）选择菜单中，闪烁分为：Flash 1和Flash 2两种方式，Flash 1是正脉冲触发方法（例如电流采样），Flash 2是负脉冲触发方法（例如高端电压采样）。根据建议，选择当前的采样方法，然后按3进入闪光灯1的工作模式。
进入闪光灯后，按照屏幕上的接线图连接接线和采样器，如图13所示。
图13闪光灯电流采样接线图
图13示意性地说明：T 1. 3kVA / 0. 22kV稳压器
T 2. 3kVA / 50kV交直流高压变压器
D。大于150kV / 0. 2A
的高压整流硅叠层
C。高压脉冲电容器，容量1〜8μF，耐压大于10kV
V。电压表
B。电流采样盒（配套配件）
J。高压球间隙（可选附件）
除当前采样器B外，上述设备均为外部设备，可以使用
使用图13中所示的分体式高压测试设备或集成的高压电源（请注意，在测试之前必须将高压放电棒连接到高压接地线）。
根据接线图完成连接后，按“速度”键选择传输速度或重新输入速度值。将增益调节旋钮旋转到大约1/3，然后按“采样”键，仪器进入等待采样状态。
调整球形间隙和“增益”旋钮后，打开电源以提高故障电缆的电压。华鼎电源的电压上升到一定值，故障点发生闪络放电，仪器记录波形，输入幅度可以根据波形大小重新调整，重复采样，闪络测试波形如图14所示：
波形特征分析如下：第一个小正脉冲是当球隙断开且故障点未放电时电容器向电缆放电的电流脉冲（当出现故障时第一个小脉冲可能不会出现）。输入幅度小或仪器灵敏度低）第二个大正脉冲是单击故障后形成的短路电流脉冲，其次是放电形成的第一个，第二个和其他多个反射电流脉冲电流脉冲，振幅由于衰减而逐渐减小。由于故障特性的差异以及电容器电压和引线电感的存在，负反冲出现在反射正脉冲的前沿。在计算故障距离时，起点是第一个正放电脉冲的前沿，终点是第一个反射正脉冲之前的终点。负脉冲上升沿。 （发送的脉冲是正脉冲，反射的脉冲也是正脉冲，但在前沿有反冲。由于故障的性质和其他原因，反冲的幅度不同，但是它比正脉冲的幅度小得多）
设置光标时，在正脉冲的上升沿和基线的交点处选择起点光标，在负反冲力的下降沿与基线的交点处选择终点光标。如果没有负脉冲，则将结束光标置于反射脉冲的上升沿和基线的交点处，故障显示距离将增加约10％。固定点时，应压缩粗略的测量距离以确定参考点的位置。
3个高压闪络测试波形
（1）测试开始时的故障波形如图15所示。
图15测试开始时的故障波形
（2）中间部分的故障波形如图16所示。
图16测试中间的故障波形
（3）测试终端的故障波形如图17所示。
图17测试终端的故障波形
3. 4闪络法测试波形的变化规律
图18是根据闪络测试方法的波形绘制的变化规律的图形，只要
认真的观察和分析可以揭示它们的变化规律。华鼎电力希望用户必须掌握标准波形及其在不同间隔内的变化规律。
图。 18闪络法测试波形的变化规律
4、高压闪络测试注意事项
高压闪络测试期间的电压高达数万伏，因此必须根据高压操作规定进行操作闪测仪，并应特别注意以下事项：
（1）在高压闪络测试中，应由专业人员操作高压测试设备，并连接仪器。在测试期间，更改连接或断开连接时必须切断电源。调整球隙，并应将电容器和电缆完全放电，然后与接地线连接。
（2）在测试之前，应对有故障的电缆进行加压和放电，以确保每个连接点均无放电，并且所施加的电压已在故障点引起闪络放电，然后开始仪器测试
（3）正确接地，也就是说，将高压变压器（T 2）高压尾巴，操作箱（T 1）接地线，华鼎电源电流采样器）与电容器接地平行放置，并且连接旁边的电缆铠装（地线），所有连接点都不得闪闪发光，以确保测试成功以及设备和人员的安全。
（[4） 闪测仪在测试期间避免使用交流电源。
（5）高压闪络法测试完成后，必须反复对电容器和电缆进行放电，然后才能再次使用低压脉冲法对电缆进行测试。
