一种验电器自动检测设备的制造方法
1.本发明涉及验电器检测技术领域，具体涉及一种验电器自动循环检测装置。
背景技术：
2.电笔一般是指电测笔。电测笔又称电测笔，简称“电笔”。它是一种电工工具，用来测试电线中是否有电。笔身有一盏灯。如果在测试过程中灯发光，则说明该导线有电或为通道的火线。测试笔的笔尖和尾部由金属材料制成，笔杆由绝缘材料制成。使用表笔时，一定要用手触摸表笔末端的金属部分，否则，由于带电体、表笔、人体和大地不形成电路，灯在测试笔不会发光，造成误判，认为带电体未通电。在生产中，电笔生产出来后，需要对电笔进行检测，防止因工艺和操作原因导致不良品流入市场。电笔的检测需要通过电流，对于人工来说太危险了。因此，有必要设计一种电笔。一种自动检测笔的设备。
3.现有验电器测试设备大多是半自动的，需要人工对验电器和设备进行一一测试。检测效率极低，需要大量人力。时间检测也容易出现误判，所以对于验电器的检测可以进一步改进。
技术实施要素：
4.为了解决上述问题，本发明提供一种验电器自动检测设备，采用验电器自动检测，自动化程度高，检测效率高，节省人力。
5.本发明所采用的技术方案是：一种验电器自动循环检测设备，包括机架、安装在机架上的转盘装置、安装在转盘装置上的周向安装的多组测试治具。以统一的方式，将加载装置、高压检测装置、击穿检测装置、光检测装置、下料装置安装在机架上并相应地围绕转盘装置。本体还用于放置验电器的放置槽、安装在转盘装置上与夹具本体相对应的接触座、安装在接触座上与放置槽相对应的接触探头、送料装置、高压检测装置，
6.对上述方案的进一步改进是，转盘装置包括安装在框架上的转盘驱动组件，以及安装在转盘驱动组件上的圆盘，转盘驱动组件驱动圆盘并驱动测试控制器回转。
7.对上述方案的进一步改进在于，夹具本体上设有多组置放槽，触头座包括连接座，以及安装在连接座上的触头连接座，连接座安装在转盘装置中，接触探头为弹性顶针，安装在接触连接座上，放置槽上设有光检测孔，光检测装置上设有光检测传感器，光检测传感器对应光检测孔，用于检测验电器的光。
8.对上述方案的进一步改进在于，上料装置包括上料平台、安装在上料平台上的物料检测架、安装在物料检测架上的物料检测传感器，物料检测传感器对应放置槽用于检测验电器是否放置在放置槽中。
9.对上述方案的进一步改进是，高压检测装置包括高压接触部件和压紧部件，高压接触部件包括高压推进底座、高压安装在高压推进底座上的电压推进驱动总成，a 高压推进底座的高压推进滑轨，高压推进滑轨滑动安装在高压推进装置上
推拉滑座、安装在高压推滑座上的高压绝缘座、安装在高压绝缘座上的高压测试顶针，高压测试插口对应放置槽; 高压推进驱动部件为圆柱体，高压推进驱动部件驱动高压推进滑座沿高压推进滑轨滑动并向测试夹具移动，使高压推进滑座沿高压推进滑轨滑动。 -电压测试套管与验电器的电气连接端接触。
10.对上述方案的进一步改进是，压缩组件包括压缩安装座，安装在压缩安装座上的压缩驱动组件，以及与压缩驱动组件连接的压缩座，所以压座设有与放置槽相对应的压槽；按压驱动部件驱动按压座将验电器按压固定在置放槽内。压紧驱动部件为气缸，并设有两组连接的压紧座；所述压座包括第一压板、设置在所述第一压板上的连接轴以及与所述第一连接轴连接的第二压板，
11.对上述方案的进一步改进在于，所述故障检测装置包括故障接触部件和压紧部件，所述故障接触部件包括故障推进底座、故障推进底座、穿透推进驱动总成，穿透式推进滑轨安装在穿透式推进底座上，穿透式推进滑动座滑动安装在穿透式推进滑轨上并与穿透式推进驱动组件连接，穿透式推进滑动座安装在穿透式推进滑动座上 防穿刺绝缘座，以及安装在穿刺绝缘座上的击穿测试套管，击穿测试插口对应放置槽；故障推进驱动部件为圆柱体，故障推进驱动部件驱动故障推进，滑座沿故障推进滑轨滑动，向测试夹具移动，使故障测试顶针与电连接端接触验电器的。
12.对上述方案的进一步改进在于，光检测装置包括：检测室、设置在检测室中并与测试夹具连接的检测通槽、安装在检测室中的检测比较组件，以及安装在检测室中的检测比较组件。检测室对应检测比较总成的照明总成；检测比对组件包括第一连接端座、第二连接端座和与第一连接端座和第二连接端座连接的比对测试笔，比对验电器位于检测通槽上方。对比验电器与放置槽错开。
13.对上述方案的进一步改进是，照明组件包括安装在检查室内的灯头，以及放置在检查室内用于感应灯头光线的光传感器，以及灯座安装有灯座。灯管用于照亮检测室，在检测室的一侧还安装了一个控制按钮。
14.对上述方案的进一步改进在于，下料装置包括下料连接架、与下料连接架连接的下料导向架、可活动安装在下料导向架上的取料组件，以及下料驱动组件，安装在下料导架上，用于驱动取料组件沿下料导架滑动。取料组件设有多组并面向测试治具，下料导向架与取料组件相对应。提供下料挡板；机架上设有与下料装置相对应的下料导槽，下料导槽用于接纳验电器的下料。取料组件可滑动地安装在卸料导轨上；取料组件包括下料传动座、安装在下料传动座上的下料缸、以及安装在下料缸驱动端的吸附元件。吸附元件用于吸附验电器；吸附元件为磁铁或真空吸盘；下料驱动部件为气缸，下料驱动部件驱动取料部件向下料挡板移动，使吸附测试仪移动。电笔在下料挡板的作用下与取料部件分离。吸附元件用于吸附验电器；吸附元件为磁铁或真空吸盘；下料驱动部件为气缸，下料驱动部件驱动取料部件向下料挡板移动，使吸附测试仪移动。电笔在下料挡板的作用下与取料部件分离。吸附元件用于吸附验电器；吸附元件为磁铁或真空吸盘；下料驱动部件为气缸，下料驱动部件驱动取料部件向下料挡板移动，使吸附测试仪移动。电笔在下料挡板的作用下与取料部件分离。
15.本发明的有益效果是：
16.与现有验电器的人工检测相比，本发明采用验电器的自动检测，自动化程度高，检测效率高，节省人力；送料装置放置在测试治具上，测试治具和验电器由转盘装置驱动，依次进行高压测试、电击穿测试、光照测试。测试不良品保存在测试治具中并返回装载机
定位、抓取和卸载有缺陷的产品。具体地，机架，安装在机架上的转盘装置，在转盘装置上沿圆周方向安装的几组测试夹具，安装在机架上并被转盘装置包围的送料装置，高压A检测装置，一种击穿检测装置、光检测装置和下料装置，该测试夹具包括夹具本体、在夹具本体上开设的用于放置验电器的放置槽，放置槽安装在转台装置上并与夹具本体相对应接触座、安装在接触座上并与槽相对应的接触探头、馈电装置、高压检测装置、击穿检测装置、光检测装置、下料装置对应不同方向的测试治具。验电器加载完毕后，进行高压、电击穿、光检测，然后卸荷。自动化程度高，节省人力，检测效率高。另外，在工作过程中，验电器固定在放置槽内，接触座上的接触探头与验电器端盖接触，便于后续测试。整体结构稳定可靠，检测稳定，精度高。并且检测效率高。另外，在工作过程中自动检具，验电器固定在放置槽内，接触座上的接触探头与验电器端盖接触，便于后续测试。整体结构稳定可靠，检测稳定自动检具，精度高。并且检测效率高。另外，在工作过程中，验电器固定在放置槽内，接触座上的接触探头与验电器端盖接触，便于后续测试。整体结构稳定可靠，检测稳定，精度高。
图纸说明
17. 图。附图说明图1是本发明验电器自动检查设备的立体示意图；
18. 图。图2是图1的立体结构示意图。1 从另一个角度看验电器自动检查设备；
19. 图。图3是图1中验电器的自动循环检查设备的送料装置的结构示意图。1个；
20. 图。图4是图1的测试治具的结构示意图。1为验电器的自动循环检查设备；
21. 图。图5是图1验电器自动循环检查设备的高压检测装置的结构示意图。1个；
22. 图。图6是图5中验电器自动循环检查设备的故障检测装置的结构示意图。1个；
23. 图。图7是图6的光检测装置的部分结构示意图。1为验电器的自动循环检查设备；
24. 图。图8是图7的光检测装置的部分结构示意图。1为验电器的自动循环检查设备；
25. 图。图9是图1中验电器的自动循环检查设备的下料装置的结构示意图。1个；
26. 图。图10是图1的结构示意图。图1是验电器自动循环检测设备下料装置的另一视角。
27.标号说明：机架1、转盘装置2、圆盘21、测试治具3、治具本体31、连接底座31< @1、触点连接底座312、槽32、光检测孔321、光检测传感器322、触点底座33、触点探头3< @4、上料装置<@4、上料平台41、物料检测架42、物料检测传感器43、高压检测装置5、高压触点总成51、高压推力座511、高压推力驱动总成512、高压推力滑轨513、高压推力滑座51< @k48@ >高压绝缘座515、高压测试顶针 516、压紧总成 52、压紧安装座 521、压紧驱动总成 522、压紧座 523、第一压板523a、连接轴523b、第二压板523c、压槽52<@4、故障检测装置6、击倒推动底座61、推动驱动组件6击穿2、推杆6故障3、推滑块6故障<@4、绝缘座6故障5、测试顶针6故障6、光检测装置7、探测室71、光触头总成72、光推进底座721、光推进驱动总成722、光推进滑道723、Lighting Advance滑座72<@4、Lighting绝缘座725、Lighting Test Thimble 726、Test Through Slot 73、Testing Comparison Assembly 7<@4、第一连接端座741、第二连接端座742、验电器743、照明总成75、灯座751、光传感器75< @2、上料装置8、上料连接架81、上料导架82、上料挡板821、上料导轨822、取料总成8 3、送料驱动块831、送料缸832、吸附元件833、送料驱动总成8<@4、卸料导槽85。照明测试顶针 726、测试通槽 73、测试对比组件 7<@4、 第一连接端座 741、第二连接端座 742、对比验电器灯 743、照明总成 75、灯座 751、光传感器 752、送料装置8、送料连接架 81、@ >给料导架82、给料挡板821、给料导轨822、取料总成83、给料传动块831、给料缸83<@ 2、吸附元件 833、进料驱动总成 8<@ 4、卸料导槽 85。照明测试顶针 726、测试通槽 73、测试对比组件 7<@4、 第一连接端座 741、第二连接端座 742、对比验电器灯 743、照明总成 75、灯座 751、光传感器 752、送料装置8、送料连接架 81、@ >给料导架82、给料挡板821、给料导轨822、取料总成83、给料传动块831、给料缸83<@ 2、吸附元件 833、进料驱动总成 8<@ 4、卸料导槽 85。@1、第二连接端座742、对比验电器743、照明组件75、灯座751、光传感器752、@ >给料装置8、给料连接架81、给料导架82、给料挡板821、给料导轨822、取料总成83、送料传动块831、送料筒832、吸附元件833、送料传动总成8<@4、卸料导槽85。@1、第二连接端座742、对比验电器743、照明组件75、灯座751、光传感器752、@ >给料装置8、给料连接架81、给料导架82、给料挡板821、给料导轨822、取料总成83、送料传动块831、送料筒832、吸附元件833、送料传动总成8<@4、卸料导槽85。进料挡板 821、进料导轨 822、取料组件 83、进料驱动块 831、进料缸 832、吸附元件 833、@ >送料驱动总成8<@ 4、卸料导槽85。进料挡板 821、进料导轨 822、取料组件 83、进料驱动块 831、进料缸 832、吸附元件 833、@ >送料驱动总成8<@ 4、卸料导槽85。
详细说明
28.为了便于理解本发明，下面结合相关附图对本发明进行更详细的说明。本发明的优选实施例在附图中示出。然而，本发明可以以许多不同的形式实施并且不限于这里描述的实施例。相反，提供这些实施例以提供对本公开的透彻理解
综合的。
29.需要注意的是，当一个元素被称为“固定”到另一个元素上时，它可以直接在另一个元素上，也可以存在中间元素。当一个元素被称为“连接”到另一个元素时，它可以直接连接到另一个元素，或者也可以存在中间元素。
30.除非另有定义，本文使用的所有技术和科学术语与本发明技术领域的普通技术人员通常理解的含义相同。在本发明的描述中使用的术语仅用于描述具体实施例的目的，并不用于限制本发明。
31.如图1至图10所示，验电器自动循环检查装置包括安装在机架1上的机架1、和均匀安装在圆周方向上的转盘装置2、分布式转台装置2中的几组测试治具3、安装在机架1上，从而被转台装置2的加载装置包围<@4、高压检测装置5、击穿检测装置6、光检测装置7、和消隐装置8，测试治具3包括治具主体31、在治具主体31上开有放置槽，用于放置验电器32、接触座33、安装在转盘装置2上并对应夹具本体31和接触探头34安装在接触座33上并对应放置槽32，送料装置<@4、高压检测装置5、击穿检测装置6、光检测装置7、和消隐装置8分别对应不同方向的测试治具3。
32.转盘装置2包括安装在机架1上的转盘驱动组件（图中未示出），以及安装在转盘驱动组件（图中未示出）上的圆盘21，转盘驱动组件（图中未显示）驱动圆盘21、并带动测试治具3转动，并设置转盘驱动总成带动圆盘21转动，实现高度自动循环检测的自动化。
33.参见图。3到图。如图4所示，夹具本体31上设有多组置放槽32，接触座33包括连接座31和安装在连接座311上的座。接触座312安装在转盘装置2上，接触探头34为弹性顶针安装在接触座312上，置放槽32上设有光检测孔321，光检测装置7为设置有光检测传感器322，光检测传感器322对应于光检测孔321、，用于检测验电器的光。本实施例采用光检测传感器322配合光检测，检测精度高，稳定可靠，
34.参见图。如图3所示，上料装置4包括上料平台41、、安装在上料平台41上的物料检测架42、和安装在物料检测架42上的物料检测架42、。材料检测传感器43，材料检测传感器43对应于放置槽32、，用于检测验电器是否放置在放置槽32中，材料检测传感器43用于检测是否每个验电器中放置放置槽32，使得后续各工位检测的模拟检测检测精度高，自动化程度高。
35.参见图。如图5所示，高压检测装置5包括高压接触组件51和按压组件52。高压推进驱动总成512、安装在高压推进底座511上的高压推进滑轨513、滑动安装在高压推进滑轨513上并连接到高压推进滑座51<@4、安装在高压推进滑座514上的高压绝缘座515、和安装在高压绝缘上的高压试验套管516座515，高压测试套管516对应放置槽32；高压推进驱动部件512为气缸，
36.按压部件52包括按压安装座521、安装在按压安装座521上的按压驱动部件522、和与按压驱动部件522座连接的按压力523，压座523上设有与置放槽32对应的压槽524；按压驱动组件522驱动按压座523将验电器按压固定在置放槽32中。按压驱动组件522为气缸，设有与按压座523连接的两组。压座523包括第一压板
压板523a的连接轴523b，与第一连接轴523b连接的第二压板523c，第二压板523c对应夹具本体31，压槽524开于第二压板523c。板 523c; 对验电器进行压测，同时压座523有接地线接地，采用两组平行气缸压压驱动，压紧稳定可靠。两组压板通过连接轴523b连接，结构稳定可靠，两组压板之间可设置缓冲结构，在压紧过程中起到压紧和缓冲作用。压制平稳，结构可靠。
37.参见图。如图6所示，故障检测装置6包括故障推进底座61、故障推进驱动组件62、安装在故障推进底座612、故障推进滑轨63、故障推进座61的@>滑动安装在故障推进轨道63上并与故障推进驱动组件62连接。故障推进滑动座6<@4、安装在故障推进轨道634、@ > 推进滑动座64的击穿绝缘座65、和安装在击穿绝缘座65上的击穿测试套管66，击穿测试套管66对应放置槽32；故障推进驱动组件62为气缸，
38.参见图7至图8，光检测装置7包括检测室71、安装在机架1上并位于检测室71下方的光接触组件72、 . 检测室71中的检测通道7与测试夹具33、安装在检测室71中的检测比较元件7<@4、和安装在检测室71中的照明装置及对应检测和比较组件74组件75；检测比较部件74包括第一连接端座741、第二连接端座742、和与第一连接端座741和第二连接端座742的比较验电器743，对比验电器743位于检测通槽73上方；对比验电器743与放置槽32错开；工具上验电器通电后的光比检测，适合人工检测，检测效率高。
39.光触头组件72包括光推进底座721、安装在光推进底座721上的光推进驱动组件722、安装在光推进底座721上的光推进滑轨723、轻推滑座72可滑动地安装在轻推滑轨723上并与轻推驱动组件722连接<@4、安装在轻推滑座724上的轻质绝缘座725、和安装隔光座725上的测光套管726对应置放槽32；光行驱动组件722为气缸，光行驱动组件722驱动光行滑动座724沿光行进滑动。
40.照明组件75包括安装在检测腔71中的灯座751、和放置在检测腔71中并用于感应灯座751的光的光传感器752，正在安装的灯座751 用一盏灯照亮检测室71，在检测室71的一侧还安装了一个控制按钮。检测室71被灯照亮，测试室71与通电后夹具上的测试笔。通电后的光比检测，适合人工检测，检测效率高。
41.参见图9至图10，下料装置8包括下料连接框架81、下料引导框架82、连接到下料连接框架812、取料组件83、安装在卸料导架82上，卸料驱动组件84安装在卸料导架82上，用于驱动取料组件83沿卸料导架82滑动。组件83卸料导架82上设有多组并面向测试治具3，卸料导架82上设有与取料组件83对应的下料挡板821。支架1上设有与卸料装置8对应的下料导向槽85，卸料导向槽85用于接纳验电器的卸料。卸料导向架82安装有卸料导轨822，取料组件83可滑动地安装在卸料导向滑道822上。取料组件83包括下料传动座831、、安装在下料传动座831上的下料筒832、和安装在下料筒832驱动端的吸附元件。
部分833，吸附元件833用于吸附验电器；吸附元件833为磁铁或真空吸盘；下料驱动组件84为气缸，下料驱动组件84向下驱动取料组件83。材料挡板821沿该方向移动，吸附的验电器在卸料挡板821的作用下与取料部件83分离。
42.本发明采用验电器全自动检测，自动化程度高，检测效率高，节省人力；开机后，通过转盘装置2驱动测试治具3和验电器依次进行高压测试、电击穿测试、光照测试。测试治具3返回上料工位后，抓取不良品并卸货。具体地，将安装在机架1、转台装置2、安装在机架装置2中的几组测试治具3、安装在机架1、1中，并相应地进料装置<@4、高压检测装置5、击穿检测装置6、光检测装置7、 以及转台装置2的卸料装置8，测试治具3包括治具本体31、一置放槽32、开口于治具本体31内，用于放置验电器32、 @>安装在转盘装置2上对应夹具本体31的接触座33、和接触探针34安装在接触座33上对应放置槽32，送料装置4、 @>高压检测装置5、击穿检测装置6、 光检测装置7、和消隐装置8分别对应不同方向的测试治具3。验电器加载完毕后，进行高压、电击穿、光检测，然后卸荷。自动化程度高，节省人力，检测效率高。另外，在工作过程中，验电器固定在置放槽32内，接触座33上的接触探针34与验电器的端盖接触，便于后续测试。整体结构稳定可靠，检测稳定，精度高。
43.上述实施例仅表达了本发明的几个实施例，其描述较为具体和详细，但不应理解为对本发明专利范围的限制。需要说明的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明的构思的前提下，还可以进行多种修改和改进，均属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
