什么是ATE自动化测试设备？
ATE是“自动测试设备”的英文缩写，它是一种通过计算机控制来测试设备，电路板和子系统的设备。计算机编程可以代替体力劳动，并自动完成测试程序。
ATE始于1960年代初期的Fairchild。当时，飞兆半导体生产门电路器件（例如14引脚双列直插式NAND门IC）和简单的模拟集成电路设备（例如6引脚双列直插式运算放大器）。当时，这是设备批量生产测试中的一个大问题。飞兆半导体开发了计算机控制的测试设备，例如用于简单模拟设备测试的5000C和用于简单栅极电路设备测试的Sentry 200。两台机器均由飞兆半导体独立开发的计算机FST2控制。 FST2是一台简单的24位10MHz计算机。
在1970年代初，设备开发从小型集成电路过渡到中型集成电路，并在1980年代初从大型集成电路过渡到超大型集成电路。对于设备制造商而言，计算机控制的测试系统已成为此时的主要测试设备。 Fairchild已开发了用于数字设备测试的Sentry 400，Sentry 600，Sentry 7，Sentry 8测试系统。
1980年代中期，成功开发了门阵列器件，该测试需要256个引脚，速度高于40MHz。
为响应这一需求，飞兆半导体试图开发Sentry 50，但失败了。飞兆半导体将其ATE部门出售给了斯伦贝谢，并成为昆山威伯特精密设备有限公司。在Fairchild将测试系统出售给Schlumberger之后，许多专家离开Fairchild加入Genrad，并建立了Genrad West Coast Systems。 GR16和GR18数字测试系统诞生于此。这些新的测试系统针对每个引脚具有独立的测试资源，最多144个引脚。不久，这些工程师离开了Ganrad，建立了Trillium测试系统，并将其出售给LTX。然后，这些工程师离开了LTX，其中一些加入了Credence，另一些则加入了其他ATE公司。
在同一时期，Teradyne的自动测试设备主导了模拟测试和内存测试。在1990年代初期，英特尔成功开发了高速，高引脚数的单片处理器单元（MPU），然后开发了高速，高引脚数的ATE。多媒体设备的出现使ATE变得更加复杂，需要同时测试数字电路，模拟电路和存储电路的功能。 SoC测试系统应运而生。
当前自动测量设备，设备速度已达到1.6GHz，引脚数已达到1024，并且所有电路都集成在单个芯片中。因此，需要进行真正的系统级芯片测试。
ATE可以由一组具有一定存储深度的通道，一系列时序发生器和多个电源组成。这些资源由负载板驱动到芯片插座上的芯片引脚。
ATE可以分为以下几种类型：
*数字测试系统-共享资源测试系统，每个引脚具有独立测试资源的测试系统。它用于表征和测试集成电路的逻辑功能。例如Colliden的SC312和Quartet。
*线性设备测试系统-用于测试线性集成电路的测试系统。
*模拟测试系统，用于表征和测试集成电路的模拟功能。例如Colliden的ASL系列。
*内存测试系统-DRAM测试系统，闪存测试系统。这些类型的自动测试设备用于验证内存芯片。例如Credence的Personal Kalos和Kalos系列，Agilent的Versatest系列和Advantest的T5593。 *板载测试系统板载测试用于测试整个印刷电路板，而不是单个集成电路。例如Teradyne的1800。
*混合信号测试系统-这种类型的系统资源用于测试集成电路的模拟和数字功能。例如Colliden的四重奏系列。
* RF测试系统-用于测试射频集成电路。例如Colliden的ASL 3000RF和SZ-Falcon。
* SOC测试系统-通常是昂贵的混合信号集成电路测试系统，用于测试超大规模集成电路（VLSI）芯片；而且这种超大规模集成电路（VLSI）芯片比传统芯片集成度更高。混合信号芯片要高得多。例如Credton的Octet系列，Agilent的93000系列和Advantest的T6673。
ATE的开发从简单的器件，低引脚数，低速测试系统（10 MHz，64引脚）到中等数量的引脚，中速测试系统（40 MHz，256引脚）到高引脚数，高速（超过100 MHz，1024引脚），最后过渡到当前的SoC测试系统（1024引脚，超过400 MHz，并具有仿真，内存测试功能）。
未来的测试系统的测试速度将超过1.6GHz，定时精度将在几百纳秒的范围内，并且数字，模拟，存储器和RF测试功能将集成到测试系统中。
这种测试系统的成本非常高，因此需要使用一个或多个测试台进行并行设备测试。为了降低测试成本，将在芯片上增加一个自测电路。同时，出于降低测试系统成本的考虑，模块化测试系统将取代通用测试系统。
ATE是自动测试设备的缩写。根据客户的测试要求，图纸和参考计划，采用基于VB，VC开发平台的MCU，PLC，PC，并使用TestStand＆LabVIEW和JTAG /边界扫描来开发和设计各种类型的自动化测试设备。
ATE的分类
1个PCBA自动化测试
由数字万用表，可编程电源，DAQ卡，单片机，继电器，PLC，气缸，夹具等组成的电信号自动采集系统，广泛用于ICT，FCT等测试设备。软件部分由NI LabVIEW编写，可自动按顺序收集和确定PASS / FAIL，自动生成测试报告并上传数据库。
2目视检查
基于高分辨率工业CCD和NI Vision的视觉测试系统用于焊点识别，尺寸测量，角度测量，字符识别等。它采用双峰积分方法和二进制方法来处理图片，使用几何工具测量尺寸，并使用特征码识别和对比图片，具有很高的准确性。
3个LED屏幕测试
黑白显示测试
RGB显示测试
彩色显示测试
灰色显示测试
4个LCD专业测试
基于光纤和颜色传感器的LED测试系统可以测试RGB，发光强度，色坐标，色温，波长等。支持多通道高速同时测试。
5次IC测试
支持I2C，SPI和其他通信模式的
IC可以读取校验和并与刻录的文件进行比较。也可以使用边界扫描测试。对于TDO，TDI自动测量设备，TMS，TCK和GND，添加VDD和接地以测试IC每个引脚的质量。
6项汽车电子测试
自动测试系统已广泛应用于汽车电子中，例如通过专业的LED分析仪检测汽车LED灯的颜色和亮度；通过RS232驱动基板以接收各种RF信号，并使用示波器检测倒车雷达和汽车锁以及其他无线设备；并通过数字万用表测量电压信号和暗电流，对地阻抗等。
7手机测试
GPS测试
蓝牙测试
音频测试
LCD测试
相机测试
键盘测试
8个其他
老化测试
烤箱测试
电视测试
冰箱测试
空调测试
MP3测试
扬声器测试
医疗设备测试
